高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber简介：本试验箱适用于考核产品（整机）、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力，该温度冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。

高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技术参数

型号TS2-80TS2-150TS2-225性 能 参 数

温度暴露范围+60～＋200℃高温室预热温度上限200℃

升温时间R.T.→＋200℃约40min

温度暴露范围0～-75℃低温室预冷温度下限-75℃

降温时间R.T.→-70℃约60min

温度范围-65～150℃提篮温度波动度≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）

温度偏差≤±2℃（-65℃～+150℃）转换时间≤5S温度回复时间≤5min温 度 回 复 条 件TS2-80条件一高温暴露+150℃低温暴露-65℃，暴露时间30min，样品重量5Kg铝条件二高温暴露120℃，低温暴露-40℃，暴露时间30min,样品重量10Kg铝TS2-150条件一高温暴露+150℃低温暴露-65℃暴露时间30min，样品重量10Kg铝条件二高温暴露120℃，低温暴露-40℃，暴露时间30min,样品重量30Kg铝TS2-225条件一高温暴露+150℃,低温暴露-65℃暴露时间30min样品重量15Kg铝条件二高温暴露120℃，低温暴露-40℃，暴露时间30min,样品重量30Kg铝

外壳冷轧钢板表面喷塑（象牙白）结 构内胆不锈钢板

隔热材料聚氨酯发泡+超细玻璃棉制 冷制冷方式风冷水冷制冷机进口压缩机温度传感器铠装铂电阻控制器西门子PLC模块+7英寸彩色液晶触摸控制屏 。数据存储与功能接口本机SD数据卡RS485接口、USB接口

D400500600提篮尺寸(mm)W500600750

H400500500

D225029202190外部尺寸(mm)W*105011001460

H195021502320装机功率（KW）19.7KVA32KVA36KVA电源AC380V 50Hz三相四线制+接地线标准配置产品使用说明书1份、试验报告1份、合格证及质量保证书各1份、打印纸5只、搁板2层、色带1只、带脚轮。满足标准GJB 150.3、GJB 150.4、GJB150.5、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2